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自研-Rise TCC芯片测试硬件管理系统
Test Control Center(简称TCC)是面向测试流程的测试生命周期管理工具，符合标准的测试流程，可迅速建立完善的测试体系，规范测试流程，提高测试效率与质量，实现对测试的过程管理，提高测试工程的生产力。
DCTest
直流测试
FunctionTest
功能测试
ACTest
交流测试
Device
验证
 
DCTest
直流测试
FunctionTest
功能测试
ACTest
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Device
验证
 
面向测试流程的测试生命周期管理工具
面向测试流程的测试生命周期管理工具
Rise TCC芯片测试硬件管理系统是无锡哲讯智能科技有限公司自主研发的一款强大的半导体测试管理工具，通过测试流程，提供多任务的测试执行，以及缺陷跟踪管理系统，最终生成测试报表。
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面向测试流程的测试生命周期管理工具
面向测试流程的测试生命周期管理工具
Rise TCC芯片测试硬件管理系统是无锡哲讯智能科技有限公司自主研发的一款强大的半导体测试管理工具，通过测试流程，提供多任务的测试执行，以及缺陷跟踪管理系统，最终生成测试报表。
TCC芯片测试硬件管理系统

系统简介

半导体检测的测试系统称为ATE，由电子电路和机械硬件组成，是由同一个主控制器指挥下的电源、计量仪器、信号发生器、模式的合体，用于模仿被测器件将会在应用中体验到的操作条件，以发现不合格的产品。


半导体测试的主要目的

是利用测试机执行被要求的测试工作。并保证其所量测的参数值，是符合设计时的规格。而这些规格参数值，一般会详细记录于的规格表内。