Test Control Center

 一、系统简介

Test Control Center(简称TCC)是面向测试流程的测试生命周期管理工具，符合标准的测试流程，可迅速建立完善的测试体系，规范测试流程，提高测试效率与质量，实现对测试的过程管理，提高测试工程的生产力。TCC是无锡哲讯智能科技有限公司自主研发的一款强大的半导体测试管理工具，通过测试流程，提供多任务的测试执行，以及缺陷跟踪管理系统，最终生成测试报表。

半导体检测的测试系统称为ATE，由电子电路和机械硬件组成，是由同一个主控制器指挥下的电源、计量仪器、信号发生器、模式的合体，用于模仿被测器件将会在应用中体验到的操作条件，以发现不合格的产品。

二、半导体测试的主要目的

是利用测试机执行被要求的测试工作。并保证其所量测的参数值，是符合设计时的规格。而这些规格参数值，一般会详细记录于的规格表内。

 

三、功能介绍

1.管理模块

添加、删除、修改角色信息，并且可以模拟实际场景中的不同角色，当角色绑定用例后，系统会根据不同的角色查找并执行不同的用例。

 

 

 

2.业务建模

标签打印规则维护

3.数据字典

测试机类别型号

分选机类别型号

测试硬件类别维护

4.基础数据维护

仓库基础数据维护

库位基础数据维护

测试机基础数据维护

分选机基础数据维护

Socket基础数国维护

Change Kit基础数据维护

Test Board基础数据维护

Golden Unit基础数据维护

Bin shot基础数据维护

Cableu础数据准护