半导体产品,又被称为集成电路或者IC,英文名是Semiconductor Device。在半导体测试中常用DUT(Device Under Test)来表示需要检测的IC单元。半导体测试的主要目的,是利用测试设备执行设定好的测试工作,然后对得到的各项参数值进行判断是否符合设计时的规范,而这些参数值会记录在规格表(Device Specifications)中。
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